Microscope
共焦点レーザー顕微鏡
Confocal Laser Scanning Microscopy
- 紫外線レーザのフォーカスから表面形状を測定
- 100nm程度の観測が可能
原子間力顕微鏡
Atomic Force Microscope
走査型電子顕微鏡
Scanning Electron Microscope
- 高解像度だが操作性に難あり
- 測定中は真空に引く必要あり
走査型白色干渉計
Scanning White Light Interferometer
- 干渉縞の変化から表面形状を測定
- 反射率が高い試料でないと測定が難しい
- 面の曲率が大きいと干渉縞の設定が難しい
接触式表面形状測定装置
Contact Profilometer
- 触診で表面形状を測定
- 高精度だが試料に接触する必要あり
光学顕微鏡
Optical Microscope
- 普通の顕微鏡
Acknowledgments
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